大型科研仪器开放共享服务信息

1、服务名称：球差校正透射电镜微观结构表征分析

2、所用仪器：球差校正透射电子显微镜（球差电镜）

3、仪器图片：

4、服务描述：针对金属、半导体、薄膜、二维材料、催化粉体等各类固体样品，提供原子尺度高分辨形貌观测、晶体结构解析、元素分布表征；可完成选区电子衍射、高分辨透射成像、原子级HAADF/ABF衬度成像，同步开展微区能谱元素定性定量、线扫/面扫mapping分析，精准获取材料晶格、缺陷、界面、团簇原子排布信息。

5、服务类别：微观结构表征检测服务

6、服务价格：2800元/小时（批量送样可享受相应优惠折扣）

7、服务周期：测试起步1 h，批量样品可协商

8、服务资质描述：设备具备亚埃级原子分辨成像能力，可实现单原子、团簇、薄膜界面、位错、空位等微观缺陷直接观测；配套高灵敏度 X 射线能谱仪，可完成轻、重元素同步检测，支持原位低温/加热样品台拓展测试，满足催化、储能、半导体、新材料等前沿科研原子尺度表征需求。

9、检验标准/方法：核心仪器技术指标：信息分辨力≤0.06 nm；加速电压可调60或300 kV；STEM模式原子分辨优于0.08 nm；能谱元素检测；电镜镜筒真空优于1×10⁻⁷ Pa；可实现单原子位点定量统计、晶格条纹精准标定、元素三维分布可视化分析，成像及谱图数据可出具标准化科研测试报告。

10、样品要求：样品需具备高真空耐受性，无易挥发、易分解、含油、含水组分；粉末样品需超声分散于超薄碳膜铜网，制样结束后应确保样品与碳膜基底紧密结合，无脱落现象。同时，本测试不接受主要成分为铁、钴、镍或其合金的样品。块体/薄膜样品需离子减薄/机械研磨至电子透明厚度（<100 nm）；样品载网/样品台尺寸适配电镜标准样品杆，最大样品直径≤3 mm，厚度不超过0.5 mm，特殊尺寸可提前沟通定制制样方案。