球差校正透射电镜微观结构表征分析-南京大学原子制造研究院

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球差校正透射电镜微观结构表征分析

来源： 2026年08月31日 14:46

所用仪器：球差校正透射电子显微镜（球差电镜）

服务类别：微观结构表征检测服务

服务价格：2800元/小时（批量送样可享受相应优惠折扣）

服务周期：测试起步1 h，批量样品可协商

服务名称	球差校正透射电镜微观结构表征分析
所用仪器	球差校正透射电子显微镜（球差电镜）
服务描述	针对金属、半导体、薄膜、二维材料、催化粉体等各类固体样品，提供原子尺度高分辨形貌观测、晶体结构解析、元素分布表征；可完成选区电子衍射、高分辨透射成像、原子级HAADF/ABF衬度成像，同步开展微区能谱元素定性定量、线扫/面扫mapping分析，精准获取材料晶格、缺陷、界面、团簇原子排布信息。
主要技术指标	1、加速电压：60kV，80kV，200kV，300kV 2、TEM信息分辨率：≤60pm@300kV;≤80pm@200kV:≤90pm@80kV:≤100pm@60kV 3、STEM分辨率：≤50pm@300kV:≤60pm@200kV;≤96pm@80kV:≤96pm@60kV, STEM分辨率指标均在30pA以上束流条件下获得 4、扫描透射系统（STEM）:高角环形暗场探头（HAADF）、明场探头（BF）、环形暗场探头（ADF） 5、Super-X EDS能量分辨率(Energy Resolution)：≤136 eV（Mn-Kα）
服务资质	设备具备亚埃级原子分辨成像能力，可实现单原子、团簇、薄膜界面、位错、空位等微观缺陷直接观测；配套高灵敏度 X 射线能谱仪，可完成轻、重元素同步检测，支持原位低温/加热样品台拓展测试，满足催化、储能、半导体、新材料等前沿科研原子尺度表征需求。
服务周期	测试起步1 h，批量样品可协商
用户须知 / 样品要求	样品需无强磁性、强放射性，具备高真空耐受性，无易挥发、易分解、含油、含水组分；粉末样品需超声分散于超薄碳膜铜网，制样结束后应确保样品与碳膜基底紧密结合，无脱落现象（粉末样品需随同铜网一同送样）。同时，本测试不接受主要成分为铁、钴、镍或其合金的样品。块体/薄膜样品需离子减薄/机械研磨至电子透明厚度（<100 nm）；样品载网/样品台尺寸适配电镜标准样品杆，最大样品直径≤3 mm，厚度不超过0.5 mm，特殊尺寸可提前沟通定制制样方案。

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